EQUIPOS
EQUIPOS

Tecnai T20

XPS (XPS/ UPS) KRATOS AXIS SUPRA

XRD-PANanalytical Empyrean

ESFOSCAN

Nano-Observer

NEOARM 30-200kV cFEG

SCIOS2

RAMAN LABRAM HR 800

LEICA DCM3D-confocal/Interferometric

AFM Dimension 3100

AFM Asylum MFP3D

AFM Multimode 8 Nanoscope III

AFM Multimode8 Nanoscope V

Difractómetro Bruker D8 Venture

JEOL JXA 8230

FESEM JSM 7100 F con EDS

JSM 6510

ESEM-VPSEM Quanta 200

JSM 7001F

Laboratorio de preparación de muestras Cryo

Laboratorio de preparación de muestras TEM MAT

Jeol EM J1010

FEI Tecnai G2 Spirit TWIN

Tecnai G2 F20 TWIN

TEM JEM 1010

JEM 2010F

JEM 2100

Nova NanoSEM 450

TALOS F200X

JEM ARM200CF: CON ABERRACIÓN CORREGIDA EN LA LENTE CONDENSADORA

JEM ARM300CFEG: CON ABERRACIÓN CORREGIDA EN LA LENTE OBJETIVO

TITAN IMAGEN

TITAN ANALÍTICO

TITAN3 THEMIS 60-300

EQUIPOS DE DOBLE HAZ (DUAL BEAM) HELIOS NANOLAB 600 Y 650

CRYOGENIC DUAL BEAM NOVA 200

SPECS JT – STM

DIFRACTÓMETRO DE RAYOS X DE ALTA RESOLUCIÓN BRUKER D8 ADVANCE: HR-XRD Y XRR

Multimode AFM System Bruker

AAHRUS VT-SPM

OMICRON LTQPLUS

MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO AMBIENTAL SEM-QUANTA FEG-250, ESEM

MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO DE EMISIÓN DE CAMPO CSEM-FEG INSPECT F50

SERVICIO DE PREPARACIÓN DE MUESTRAS TEM

TECNAI F30
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