ELECMI

ELECMI es una apuesta de cuatro centros de investigación españoles.
Ponemos a disposición de los investigadores y del mundo empresarial equipamientos de última generación en análisis y caracterización de materiales.

TITAN3 THEMIS 60-300

DME, Cádiz

JEM GRAND ARM 300CF: CON ABERRACIÓN CORREGIDA EN LA LENTE OBJETIVO

CNME, Madrid

ANALYTIC TITAN&TITAN CUBE

LMA, Zaragoza

PRECESIÓN ELECTRÓNICA

UMEAP, Barcelona

OTRAS TÉCNICAS, DRX Microprobe FESEM

UMEAP, Barcelona

DUAL BEAM: HELIOS NANOLAB 600 & 650

LMA, Zaragoza

TITAN LOW BASE & JEM ARM200CF

LMA & CNME

SCANNING ELECTRON MICROSCOPY

LMA, CNME, DME & UMEAP

XPS KRATOS ULTRA

LMA, Zaragoza

TITAN3 THEMIS 60-300

DME, Cádiz

ELECMI – Infraestructura Integrada de Microscopía Electrónica de Materiales

En ELECMI somos expertos en Microscopía Electrónica. Ponemos a disposición de los investigadores y de la industria equipamientos de última generación, con el asesoramiento necesario para el análisis, caracterización de materiales y desarrollo de nuevos productos. Potenciamos la transferencia de tecnología y la innovación.

Somos una Infraestructura Científico Técnica Singular (ICTS) en el actual mapa de ICTS del Estado Español. ELECMI está compuesto por cuatro nodos: el CNME (Centro Nacional de Microscopía Electrónica) de la Universidad Complutense de Madrid; el LMA (Laboratorio de Microscopias Avanzadas) de la Universidad de Zaragoza; la DME (División de Microscopía Electrónica) de la Universidad de Cádiz y la UMEAP (Unidad de Microscopía Electrónica Aplicada a Materiales) de la Universidad de Barcelona.

LOS NODOS ELECMI

ORGANIGRAMA DE ELECMI

Cargos directivos actuales

Presidente: Prof. Ricardo Ibarra (LMA)

Coordinador: Prof. Pilar Cea (LMA)

Comité de Coordinación

LMA: Ricardo M. Ibarra García y Pilar Cea Mingueza

UCM: José Mª González Calbet y Juan Garvín Maeso

UC: José Juan Calvino Gámez y Ginesa Blanco Montilla

UB: Francesca Peiró y José Ramón Seoane Trigo

Coordinadores del Comité de Acceso

LMA: César Magén

UCM: Javier García

UC: Susana Trasobares Llorente

UB: Joan Mendoza

CNME ELECMI – Centro Nacional de Microscopía Electrónica

El Centro Nacional de Microscopía Electrónica, CNME, principal acción Transversal del Campus de Excelencia Internacional Moncloa, está diseñado, de acuerdo con el estudio realizado por la FECYT sobre Instalaciones Científico-Tecnológicas Singulares (ICTS) para desarrollar, implementar y ofertar a la comunidad científica nacional e internacional los métodos y técnicas más avanzados en microscopía electrónica de transmisión y barrido para el análisis estructural de materiales. Este Centro consta de una serie de microscopios de última generación, y de instrumentos y técnicas para la preparación avanzada de muestras, así como para la aplicación de métodos computacionales de tratamiento de imágenes.

LMA ELECMI – Laboratorio de Microscopías Avanzadas

El Laboratorio de Microscopías Avanzadas, LMA, se encuentra el campus Río Ebro de la Universidad de Zaragoza. Constituye una iniciativa singular a nivel nacional e internacional cuyo objetivo se centra en poner a disposición de la comunidad científica las infraestructuras más avanzadas en microscopía electrónica y de sonda local para la observación, caracterización, nanoestructuración y manipulación de materiales a escala atómica y molecular.

DME ELECMI – División de Microscopía Electrónica

La División de Microscopía Electrónica, DME, está integrada en los Servicios Centrales de Ciencia y Tecnología (SC-ICYT) de la Universidad de Cádiz. La infraestructura cuenta con personal altamente especializado en técnicas como la microscopía de aberraciones corregidas (TEM,STEM), la tomografía de electrones y las espectroscopias de pérdida de electrones (EELS) y energía dispersiva de rayos X (EDX). Entre las prioridades de DME-UCA está la formación, entrenamiento y difusión en técnicas y métodos innovadores basados en la microscopia electrónica de transmisión y la aplicabilidad de la microscopia electrónica a la investigación aplicada de materiales.

UMEAP ELECMI – Unidad de Microscopía Electrónica Aplicada a Materiales

La Unidad de Microscopía Electrónica Aplicada a los Materiales (UMEAP-UB está integrada en los Centros Científicos y Tecnológicos de la Universidad de Barcelona (CCITUB). Dispone de personal altamente especializado en técnicas de caracterización por microscopía electronica de transmisión y técnicas analíticas relacionadas (Espectroscopía EELS y EDXS), así como en el tratamiento avanzado de datos y simulación. Disponen de sistemas de precesión del haz (para difracción electrónica en 3D, cristalografía electrónica, reconocimiento de fases cristalinas y mapas de orientación y tensión) y de portamuestras específicos para microscopía in-situ y tomografía electrónica. Ofrecen, además, técnicas de microscopia TEM y SEM para material biológico (Cryo-Tomografía, Hibridación in-situ, etc.), y una amplia selección de técnicas de caracterización complementarias, como microsondas, difractómetros de Rayos X, microscopía Raman, ESCA, AFM, etc.

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