Nano-Observer

Los microscopios de sonda de barrido son técnicas clave de la nanociencia y la nanotecnología, que dan soporte a una amplia gama de actividades multidisciplinares. El LMA alberga varios cabezales de AFM/STM polivalentes que cubren una amplia gama de aplicaciones en condiciones casi ambientales.

El Nano-Observer AFM de CSInstruments ofrece imágenes de alta calidad en los modos de contacto, contacto intermitente y dinámico. El modo de contacto intermitente se desarrolló para el escaneo de muestras muy blandas en las que se requiere el contacto punta-muestra. Un preamplificador Resiscope™ especialmente diseñado permite medir la resistencia local de la superficie en un rango de 10 décadas de forma dinámica sobre la marcha durante los escaneados de AFM conductiva. En el caso de materiales ópticamente activos, como los semiconductores fotovoltaicos, el láser del AFM puede controlarse de forma intermitente durante las mediciones críticas. Todas estas funciones pueden combinarse. El instrumento está suspendido en una cabina con aislamiento de vibraciones que permite el funcionamiento a muy bajo nivel de ruido. Un diseño bastante abierto permite que la platina de muestras reciba muestras grandes de hasta 5 x 5 cm². A continuación se enumeran varios modos de AFM para la caracterización complementaria de superficies.

Características principales:

Modo de contacto intermitente para muestras muy blandas;
Resiscope™ para muestras con fuerte variación de la resistividad superficial;
Control láser para materiales fotosensibles;
Recepción de muestras grandes

Morfología de la superficie. Topografía con resolución de hasta 5 Å.
Contacto intermitente suave
AFM conductivo Resiscope para registro de fuertes variaciones de resistividad superficial
AFM conductivo Soft Resiscope para muestras delicadas
Potencial eléctrico local (KPM). Medidas cualitativas de la distribución local de la carga
Propiedades magnéticas (MFM). Análisis de propiedades magnéticas bajo campos magnéticos

La muestra debe inmovilizarse en un sustrato plano (por ejemplo, las biomoléculas deben inmovilizarse en una superficie de mica por absorción o mediante un procedimiento covalente).
La muestra debe presentar una rugosidad inferior al rango del piezómetro.
El tamaño de la muestra debe ser lo suficientemente pequeño como para caber dentro del microscopio, menos de 1 x 1 cm² (Multimodes), y menos de 5 x 5 cm² de superficie (Nano-Observer) y 0,5 cm de grosor.
Los tipos de muestras que pueden estudiarse con los SPM ambientales incluyen:

Muestras biológicas (ADN, proteínas y péptidos; células, virus y bacterias; tejidos biológicos, etc.).
Películas delgadas orgánicas e inorgánicas.
Geles y polímeros.
Nanopartículas y nanomateriales.
Caracterización de sensores; metrología.