por o10mediaB | Jun 7, 2022 | Equipos Singulares, SEM & DUAL BEAM, DME Cádiz, Equipos
Estación de haz doble (iones Ga+ y electrones) FIB-FEGSEM para caracterización de materiales orgánicos e inorgánicos mediante técnicas de Microscopía Electrónica de Barrido (imágenes de electrones secundarios, electrones retrodispersos e imágenes STEM); microanálisis...
por o10mediaB | Ago 18, 2020 | CNME - Madrid, Otros Equipos, SPM, Equipos
AFM MULTIMODE NANOSCOPE III A (BRUKER) El AFM es una técnica de medida superficial que se basa en la interacción de una punta con la superficie de la muestra. Esta técnica permite el análisis superficial de muestras con resolución nanométrica o incluso atómica. Como...
por o10mediaB | May 12, 2020 | Otros Equipos, UMEAP - Barcelona, SPM, Equipos
LEICA DCM3D-confocal/Interferometric Descripción del Equipo El sistema Leica DCM 3D de tecnología de doble núcleo ha sido diseñado para el análisis rápido y sin contacto de estructuras microscópicas y nanoestructuras en superficies técnicas y está disponible en...
por o10mediaB | May 12, 2020 | Otros Equipos, UMEAP - Barcelona, SPM, Equipos
AFM Dimension 3100 Tipología de equipo AFM Dimension 3100 (Bruker) Descripción del Equipo El rendimiento y la confiabilidad de la plataforma DIMENSION son el resultado de su diseño mecánico superior y la electrónica de control de ruido más baja de la industria....
por o10mediaB | May 12, 2020 | Otros Equipos, UMEAP - Barcelona, SPM, Equipos
AFM Asylum MFP3D Tipología de equipo AFM Asylum MFP3D (Oxford Instruments) Descripción del Equipo El MFP-3D-SA es ideal para muchas aplicaciones, incluyendo física, ciencia de materiales, polímeros, química, nanolitografía, biociencia y mediciones cuantitativas a...
por o10mediaB | May 12, 2020 | Otros Equipos, UMEAP - Barcelona, SPM, Equipos
AFM Multimode 8 Nanoscope III Tipología de equipo AFM Multimode8 con electrónica Nanoscope III (Bruker) Descripción del Equipo El rendimiento y la fiabilidad de la plataforma MultiMode son el resultado de su diseño mecánico superior y la electrónica de control de...
Recent Comments