Thermo Scientific TALOS F200X G2

Microscopio Electrónico de Transmisión/Barrido Transmisión (TEM/STEM) de alta productividad (sin correctores de aberración Cs) que permite el análisis estructural a nivel atómico y composicional a escala subnanométrica. Puede operarse a voltajes de 200 y 80 kV. El equipo cuenta con un cañón de Emisión de Campo de Alto Brillo (XFEG), sistema de detección de Rayos-X de alta sensibilidad (tecnología Chemi-STEM G2) que integra 4 detectores SDD en torno a la muestra, cámara CMOS de alta resolución (4kx4k) y alta sensibilidad, pieza polar de gap ancho y tanque de alta tensión de alta estabilidad de última generación.

¿QUÉ USOS TIENE EL EQUIPO?

El microscopio de transmisión (TEM/STEM) Talos F200X nos permite caracterizar la estructura y composición de muestras a nivel atómico.

Adquisición de imágenes

  • En modo transmisión HR TEM resolución ≈ 0.25 nm (point resolution) @200 kV
  • En modo barrido HRSTEM: 0.16 nm @200 kV, además cuenta con 4 detectores: HAADF, MAADF (DF4), ADF (DF2) y BF que se pueden utilizar de forma simultánea.
  • Difracción de electrones

Análisis espectroscópico:

  • Sistema de microanálisis de Rayos-X (Chemi-STEM) de tipo Super-X windowless EDX y que cuenta con 4 detectores SDD que proporcionan un ángulo sólido ≈ 0.8 srad. (resolución < 136eV@Mn-Kα a 10,000 cps)

Estudios de Tomografía Electrónica:

  • Cuenta con dos porta muestras especiales para la caracterización tridimensional de nano estructuras además de un programa que permite la adquisición automatizada de experimentos de tomografía en modo TEM /STEM, en modo individual o en lotes, además de la posibilidad de registrar series de tomografía en modo analítico EDS.

Estudio de Muestras en estado reducido:

  • Cuenta con un porta muestras de transferencia anaerobia que permite el estudio de muestras sensibles a modificaciones por la interacción con el aire.

ESPECIFICACIONES TÉCNICAS

  • Voltaje de operación: 80 y 200 kV
  • Cañón de electrones X-FEG de alto brillo ≥ 7 x 107 A /m2 sr V
  • Resolución en imagen STEM ≈ 0.15 nm y TEM ≈ 0.25 nm (point resolution)
  • Detector de Rayos X de tecnología Chemi-STEM con un ángulo sólido ≈ 0.8 srad
  • Camara CMOS Ceta 16M
  • Rangos de inclinación: ± 40° para imagen, ±75° para tomográfia
  • Programa Velox para adquisición de imágenes en modo TEM y STEM, que permite registro de mapas EDS y con capacidad de adquirir imágenes en modo DPC (Differential phase contrast)
  • Programa STEM/ TEM tomography, para la adquisición automática de series tomográficas en modo TEM o STEM (empleando distintos detectores BF, DF2, DF4) y capacidad para realizar experimentos de tomografía analítica.
  • Programa Crystal Pack que permite inclinación y rotación compucéntrica, alternar entre las condiciones de difracción y además puede inclinarse de forma automática en los ejes más relevantes.