JSM 6510

Tipología de equipoz

Microscopio Electrónico de Barrido (termoiónico) SEM JSM-6510 (JEOL)

Especificaciones del Equipo

  • Detector EDS Pentafex-INCA (Oxford Instruments)
  • Detector de electrones secundarios E-T (en cámara)
  • Detector de electrones retrodispersados (en cámara)
  • Unidad de congelación (Cryo-SEM) ALTO1000 Gatan

Usos del equipo

  • Microscopía en alto vacío
  • Caracterización microscópica de materiales
  • Microanálisis cualitativo de materiales sólidos
  • Observación y microanálisis de muestras hidratadas congeladas