EQUIPOS
EQUIPOS
Tecnai T20
XPS (XPS/ UPS) KRATOS AXIS SUPRA
XRD-PANanalytical Empyrean
ESFOSCAN
Nano-Observer
NEOARM 30-200kV cFEG
SCIOS2
RAMAN LABRAM HR 800
LEICA DCM3D-confocal/Interferometric
AFM Dimension 3100
AFM Asylum MFP3D
AFM Multimode 8 Nanoscope III
AFM Multimode8 Nanoscope V
Difractómetro Bruker D8 Venture
JEOL JXA 8230
FESEM JSM 7100 F con EDS
JSM 6510
ESEM-VPSEM Quanta 200
JSM 7001F
Laboratorio de preparación de muestras Cryo
Laboratorio de preparación de muestras TEM MAT
Jeol EM J1010
FEI Tecnai G2 Spirit TWIN
Tecnai G2 F20 TWIN
TEM JEM 1010
JEM 2010F
JEM 2100
Nova NanoSEM 450
TALOS F200X
JEM ARM200CF: CON ABERRACIÓN CORREGIDA EN LA LENTE CONDENSADORA
JEM ARM300CFEG: CON ABERRACIÓN CORREGIDA EN LA LENTE OBJETIVO
TITAN IMAGEN
TITAN ANALÍTICO
TITAN3 THEMIS 60-300
EQUIPOS DE DOBLE HAZ (DUAL BEAM) HELIOS NANOLAB 600 Y 650
CRYOGENIC DUAL BEAM NOVA 200
SPECS JT – STM
DIFRACTÓMETRO DE RAYOS X DE ALTA RESOLUCIÓN BRUKER D8 ADVANCE: HR-XRD Y XRR
Multimode AFM System Bruker
AAHRUS VT-SPM
OMICRON LTQPLUS
MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO AMBIENTAL SEM-QUANTA FEG-250, ESEM
MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO DE EMISIÓN DE CAMPO CSEM-FEG INSPECT F50
SERVICIO DE PREPARACIÓN DE MUESTRAS TEM
TECNAI F30
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