ELECMI – Infraestructura Integrada de Microscopía Electrónica de Materiales
We are a Singular Scientific Technical Infrastructure (ICTS) in the current ICTS map of the Spanish State. ELECMI is made up of four nodes: the CNME (National Center for Electronic Microscopy) of the Complutense University of Madrid; the LMA (Laboratory for Advanced Microscopies) of the University of Zaragoza; the DME (Division of Electronic Microscopy) of the University of Cádiz and the UMEAP (Unit of Electronic Microscopy Applied to Materials) of the University of Barcelona.
Noticias
Gatan Metro direct imaging and 4D STEM workshop
Gatan, node CNME ELECMI and Complutense University would like to formally invite you attend our Gatan Metro® direct imaging and 4D STEM workshop....
ELECMI presents its second competitive open access protocol
Successful applications will be granted free access to the facilityThe ICTS ELECMI presents its second competitive open access process for the free...
ELECMI presents a new open access protocol
Successful applications will be granted free access to the facilityThe ICTS ELECMI (elecmi.es) renews its commitment to the academic and industrial...
ELECMI NODES
ORGANIGRAMA DE ELECMI
Cargos directivos actuales
Presidenta: Prof. Pilar Cea (LMA)
Coordinador: Prof. José María de Teresa Nogueras (LMA)
Comité de Coordinación
LMA: Pilar Cea Mingueza y José María de Teresa
UCM: María Varela y Juan Garvín Maeso
UCA: José Juan Calvino Gámez y Ginesa Blanco Montilla
UB: Francesca Peiró y Juan Fran Sangüesa Ferrer
Coordinadores del Comité de Acceso
LMA: César Magén
UCM: Javier García
UCA: Susana Trasobares Llorente
UB: Joan Mendoza
CNME ELECMI – Centro Nacional de Microscopía Electrónica
El Centro Nacional de Microscopía Electrónica, CNME, principal acción Transversal del Campus de Excelencia Internacional Moncloa, está diseñado, de acuerdo con el estudio realizado por la FECYT sobre Instalaciones Científico-Tecnológicas Singulares (ICTS) para desarrollar, implementar y ofertar a la comunidad científica nacional e internacional los métodos y técnicas más avanzados en microscopía electrónica de transmisión y barrido para el análisis estructural de materiales. Este Centro consta de una serie de microscopios de última generación, y de instrumentos y técnicas para la preparación avanzada de muestras, así como para la aplicación de métodos computacionales de tratamiento de imágenes.
LMA ELECMI – Laboratorio de Microscopías Avanzadas
El Laboratorio de Microscopías Avanzadas, LMA, se encuentra el campus Río Ebro de la Universidad de Zaragoza. Constituye una iniciativa singular a nivel nacional e internacional cuyo objetivo se centra en poner a disposición de la comunidad científica las infraestructuras más avanzadas en microscopía electrónica y de sonda local para la observación, caracterización, nanoestructuración y manipulación de materiales a escala atómica y molecular.
DME ELECMI – División de Microscopía Electrónica
La División de Microscopía Electrónica, DME, está integrada en los Servicios Centrales de Ciencia y Tecnología (SC-ICYT) de la Universidad de Cádiz. La infraestructura cuenta con personal altamente especializado en técnicas como la microscopía de aberraciones corregidas (TEM,STEM), la tomografía de electrones y las espectroscopias de pérdida de electrones (EELS) y energía dispersiva de rayos X (EDX). Entre las prioridades de DME-UCA está la formación, entrenamiento y difusión en técnicas y métodos innovadores basados en la microscopia electrónica de transmisión y la aplicabilidad de la microscopia electrónica a la investigación aplicada de materiales.
UMEAP ELECMI – Unidad de Microscopía Electrónica Aplicada a Materiales
La Unidad de Microscopía Electrónica Aplicada a los Materiales (UMEAP-UB está integrada en los Centros Científicos y Tecnológicos de la Universidad de Barcelona (CCITUB). Dispone de personal altamente especializado en técnicas de caracterización por microscopía electronica de transmisión y técnicas analíticas relacionadas (Espectroscopía EELS y EDXS), así como en el tratamiento avanzado de datos y simulación. Disponen de sistemas de precesión del haz (para difracción electrónica en 3D, cristalografía electrónica, reconocimiento de fases cristalinas y mapas de orientación y tensión) y de portamuestras específicos para microscopía in-situ y tomografía electrónica. Ofrecen, además, técnicas de microscopia TEM y SEM para material biológico (Cryo-Tomografía, Hibridación in-situ, etc.), y una amplia selección de técnicas de caracterización complementarias, como microsondas, difractómetros de Rayos X, microscopía Raman, ESCA, AFM, etc.
