FESEM JSM 7100-F con EDS
Tipología de equipo
- Microscopio Electrónico de Barrido de Emisión de Campo FESEM JSM-7100-F (JEOL)
Especificaciones
- Detector EDS Pentafex-INCA (Oxford Instruments)
- Detector de electrones secundarios E-T (en cámara)
- Detector de electrones retrodispersados (en cámara)
- Espectrómetro de catodoluminiscencia (MONOCL4 Gatan)
Usos
- Microscopía de alta resolución en alto vacío
- Caracterización microscópica de materiales
- Microanálisis cualitativo de materiales sólidos
