JEOL JXA 8230

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JEOL JXA 8230

Tipología de equipo

Microsonda Electrónica JEOL JXA 8230

Descripción del Equipo:

La microsonda electrónica (electron probe microanalyzer, EPMA) es un instrumento que permite realizar análisis químicos cuantitativos de muestras sólidas a escala micrométrica. Con la microsonda electrónica se puede determinar la concentración de elementos desde el B hasta U, con precisiones del orden del 2% y límites de detección de centenares de partes por millón (ppm). También permite realizar perfiles en línea y mapas de distribución bidimensional de concentración. La microsonda electrónica utiliza un haz de electrones monoenergético, que se enfoca en la región de interés de la muestra, y como resultado de la interacción electrón-materia se produce la emisión de rayos X característicos. Las intensidades de rayos X se registran mediante espectrómetros dispersivos en longitud de onda (wavelength-dispersive spectrometer, WDS) y se convierten en concentración mediante el uso combinado de patrones de referencia y correcciones de efecto de matriz.

 

¿Qué usos tiene este equipo?

  • Determinación de la química mineral y de la química de vidrios naturales para la clasificación de rocas, identificación de procesos de alteración y génesis de yacimientos minerales, establecimiento de las condiciones de formación de rocas (geobarómetros, geotermómetros).
  • Identificación y estudio de variaciones composicionales de minerales, especialmente los asociados a procesos de difusión muy lentos. Análisis de intercrecimientos finos en minerales (e.g. pequeñas ex-soluciones de lamelas) que revelan la historia térmica y origen de los cristales.
  • Determinación de la composición de minerales y vidrios obtenidos experimentalmente y su aplicación a la obtención de diagramas de fases, calibración de modelos termodinámicos y determinación de constantes cinemáticas (e.g. coeficientes de difusión).
  • Determinación de mapas de distribución bidimensional para localización de elementos de interés económico o para entender los mecanismos y episodios de crecimiento cristalino y disolución.
  • Estudio de micro-zonación en minerales como el zircón o monacita para aplicaciones de datación.
  • Identificación de fases minerales raras y/o nuevas, de interés estratégico.
  • Estudio de microinclusiones vítreas en minerales magmáticos esenciales formadores de roca (olivino, piroxeno, feldespatos y cuarzo).
  • Estudio de matrices vítreas y/o amorfas inhomogéneas y/o zonadas y su aplicación en estudios de riesgo volcánico.
  • Caracterización de fases microestructurales y precipitados (a escala micrométrica) presentes en aleaciones, metales, aceros, cerámicas y materiales avanzados.
  • Caracterización de fases metálicas y carburos presentes en recubrimientos obtenidos por proyección térmica
  • Análisis de composición y grosor de capas delgadas y multicapas
  • Caracterización de materiales cristalinos láser y y no-lineales para aplicaciones fotónicas
  • Estudio de envejecimiento de aleaciones metálicas (reacciones de estado sólido) y análisis de fallos (cambios anticipados de la microestructura de un material)

Especificaciones técnicas

  • JEOL JXA 8230, SN 1600001170117
  • 5 espectrómetros WDS:
    • CH1: tipo FCS, 4 cristales: TAP, PETJ, LDE1, LDE2, contador proporcional flujo gas
    • CH2: tipo XCE, 2 cristales: PETJ, TAP, contador proporcional flujo gas
    • CH3: tipo H, 2 cristales: TAPH, LDE5H, contador proporcional flujo gas
    • CH4: tipo H, 2 cristales: LiFH, PETH, contador proporcional Xe sellado
    • CH5: tipo L, 2 cristales: LiFL, PETL, contador proporcional flujo Xe sellado
  • 1 espectrómetro EDS del tipo SDD, ventana UTW con apertura variable
  • 1 plasma cleaner EVACTRON acoplado a la precámara.
  • Sistema anticontaminación trampa de nitrógeno líquido LNT
  • Microscopio óptico con luz transmitida