Nova NanoSEM 450
El microscopio electrónico de barrido Nova NanoSEM 450 permite obtener imágenes de alta resolución. Gracias a su configuración de detectores en el interior de la columna (TLD-SE), posibilidad de desaceleración del haz y a su avanzada óptica, permite registrar imágenes de alta calidad a voltajes de aceleración bajos.
El microscopio puede operar tanto en modo de alto vacío como de bajo vacío, sin necesidad de metalizar la muestra, utilizando en este caso el detector LV-BSE (GAD). El sistema está además equipado con un detector anular de electrones retrodispersos retráctil CBS-BSE y un equipo de microanálisis EDAX con un detector de 100 mm2 de superficie para la adquisición de mapas EDS de forma rápida con gran número de cuentas.
¿QUÉ USOS TIENE EL EQUIPO?
Adquisición de imágenes:
- Resolución en alto vacío: 0.8 nm @ 30 kV (STEM), 1.0 nm @ 15 kV (TLD-SE), 1.4 nm @ 1 kV (TLD-SE) sin desaceleración del haz y 4.0 nm @ 100 V (CBS)
- Resolución en bajo vacío: 1.5 nm @ 10 kV (GAD) y 1.8 nm @ 3 kV(GAD)
Análisis químico:
- Mediante Energía Dispersiva de Rayos-X (EDX) con posibilidad de adquirir mapas y perfiles de composición.
Análisis de campos:
- Imágenes de alta resolución de electrones secundarios en alto y bajo vacío, con capacidad de trabajar a bajo voltaje y en modo de desaceleración del haz de electrones desde +50 V a -4000 V.
- Registro de imágenes de retrodispersos con detector anular retráctil CBS-BSE.
- Posibilidad de trabajar en STEM con detector retráctil de electrones transmitidos.
Medidas “in-situ”:
- Análisis de la morfología de la muestra mediante registro de imágenes con el sistema de posicionamiento de la muestra en 5 ejes.
ESPECIFICACIONES TÉCNICAS
El microscopio de barrido de barrido Nova NanoSEM 450 con cañón de electrones de emisión de campo Schottky de alta estabilidad, permite, gracias a la serie de detectores con los que viene equipado y al sistema de microanálisis EDAX con detector de 100 mm2 de superficie, el estudio morfológico de muestras acompañado de mapas de composición química. La implementación del sistema con detectores de electrones retrodispersos y transmitidos capacitan a este equipo para obtener imágenes de alta calidad de composición en superficie y de contraste de campo oscuro anular de alto ángulo en muestras de transmisión.
Detectores:
- Detector de secundarios Everhardt-Thornley SED.
- Detector de secundarios en el interior de las lentes (TLD-SE).
- Detector de retrosdispersos retráctil (CBS-BSE).
- Detector de secundarios en bajo vacío (LVD).
- Detector de retrodispersos en bajo vacío (GAD).
- Detector de STEM BF y DF HAADF.
- Detector de EDX de 100 mm2 de superficie.
