OMICRON LTQPLUS
Este instrumento combina la técnica de microscopía atómica de fuerzas (AFM) con la de microscopía de efecto túnel (STM) en condiciones de Ultra-Alto-Vacío (UHV) desde 300 K a 5K. Es extremadamente versátil y estable y permite medidas espectroscópicas y de fuerza de alta resolución. A través de una sonda de diapasón (q-plus) se estudian muestras orgánicas e inorgánicas ultra-finas crecidas sobre superficies poco rugosas. Adicionalmente, se puede funcionalizar la punta con moléculas de CO, lo que proporciona resolución intra-molecular. Asimismo, el AFM pude trabajar sobre superficies aislantes o semiconductoras sin intercambio de carga.
El equipo tiene con una cámara de preparación anexa para limpiar sustratos metálicos y evaporar tanto materiales orgánicos como inorgánicos, que se pueden caracterizar mediante un difractómetro de electrones de baja energía (LEED). Cuenta con una cámara de entrada rápida de sustratos que permite su exfoliación.
Las líneas de investigación están orientadas al estudio de interacciones moleculares, estudio de sistemas autoensamblados, propiedades electrónicas y estructurales de películas híbridas de compuestos metal-orgánicos.
¿Qué usos tiene este equipo?
Microscopia y espectroscopia de efecto túnel:
- Caracterización estructural y electrónica con resolución sub-molecular.
- Caracterización de estructura de bandas en el espacio recíproco mediante patrones de interferencia de cuasipartículas
- Caracterización estructural de alta resolución mediante puntas funcionalizadas con CO.
- Manipulación de átomos y moléculas usando la punta que se usa como sonda.
Microscopía atómica de fuerzas:
- Estudio de todo tipo de muestras: desde aislantes a metálicas.
- Medida simultánea de fuerzas y conductancia
- Obtención de mapas de la carga electrónica (potencial superficial) hasta la escala sub-molecular.
Especificaciones técnicas
- Rango de temperaturas: 4.7 K, 78 K y 300 K
- Periodicidad de suministro de LHe / LN2: 62 / 48 horas
- Ruido topográfico en Z: 3 pm pico a pico; <500 fm/sqrt(Hz)
- Resolución en energía / fuerza: 1 mV / 1 pN
- Oscilación mínima estable del diapasón: 20-30 pm
- Intercambio in-situ de puntas.
- Rapidez en el enfriamiento y estabilización de los piezos
- Tamaño máximo del sustrato: 3 mm de grosor y 10 mm de anchura.
Accesorios de preparación de muestras: Manipulador combinado de calentamiento resistivo y enfriamiento a LN2 (rango de temperatura: 100 – 1100 K). Equipo de difracción de electrones de baja energía, espectrómetro de masas (cuadrupolo) para detección de gases residuales, 2 cañones de iones, 4 válvulas de fugas para inyección controlada de gases, 1 evaporador metálico (e-beam) y 2 evaporadores orgánicos (resistivo). Estaciones de bombeo accesorias. Carrousel con capacidad de hasta 4 muestras.
