Microscopio electrónico NEOARM 30-200kV cFEG
El microscopio JEM-ARM200F: NEOARM es un microscopio electrónico de transmisión con un cañón de electrones de emisión de campo de cátodo frío (cold FEG) que cuenta con un corrector de aberraciones en la lente condensadora. Permite trabajar a voltajes de aceleración de 30 kV, 80 kV y 200 kV.
Este instrumento está especialmente optimizado para la microscopía in situ, aplicada tanto a ciencia de materiales como a ciencias de la vida. La instalación de un shutter electrostático de alta velocidad en el cañón permite la obtención de un haz de electrones pulsado para un control muy preciso de la dosis. Combinado con la posibilidad de trabajo a bajo voltaje y con las cámaras Rio (CMOS) i Gatan K3 (detección directa post-GIF) de alta sensibilidad y velocidad de adquisición, permite observar la respuesta en tiempo real bajo estímulos externos incluso de los materiales más sensibles al haz. Dispone de portamuestras para la observación en líquido con control de flujo de entrada y salida, portamuestras para el calentamiento y/o polarización eléctrica de la muestra, portamuestras para observación criogénica a temperatura del nitrógeno líquido y portamuestras de alto ángulo de giro para tomografía, además de los de giro simple y doble convencionales.
A nivel analítico, cuenta con dos detectores EDXS dispuestos ortogonalmente para permitir la adquisición de series tomográficas analíticas, filtro de energía GIF Continuum para espectroscopía de pérdida de energía de los electrones (EELS) con cámara Gatan K3 post-filtro con capacidad de resolución en momento (Q-slit). Con la resolución del haz corregido en sonda, las imágenes en modo STEM (BF, ABF, ADF y HAADF), así como la información espectroscópica EDXS y EELS se pueden obtener con resolución de columna atómica.
Está equipado para la realización de medidas de difracción 4D-STEM con el sistema STEMx de Gatan y con el sistema ASTAR y TopSpin de Nanomegas para la adquisición de datos 4D-STEM con precesión del haz de electrones. El haz en modo de nanodifracción (NBD) también está corregido de aberraciones.
Imagen:
- Modo STEM (corregido): resolución de 0.078 nm a 200 kV (0.11 nm a 80 kV). Detectores BF, ABF, ADF, HAADF.
- Modo TEM (no corregido): imágenes HRTEM con una resolución de 0.1 nm. Límite de información < 0.11 nm
- Tomografía electrónica morfológica.
Análisis químico:
- Espectroscopía de Rayos X (EDXS) y de pérdida de energía de los electrones (EELS, EFTEM)
- Mapas y perfiles de composición con resolución atómica en modo barrido-transmisión (STEM)
- Tomografía electrónica analítica.
Análisis de campos:
- Obtención de mapas de tensiones, orientaciones y fases cristalográficas, DPC, ptycografía, mapas de distribución de campos eléctricos y magnéticos mediante contraste de fase diferencial (DPC).
Medidas in situ:
- Análisis de muestras en medio líquido con calentamiento y/o polarización
- Polarización y/o calentamiento de muestras sólidas
- Análisis de muestras a temperatura criogénica (N2 líquido)
Voltaje de aceleración: 30 kV – 80 kV – 200 kV
Resolución en energía (cFEG): hasta 0.26 eV FWHM ZLP
Modulador de dosis electrostático: pulsos de hasta 100 ns con una velocidad de conmutación más rápidos que 50 ns.
Corrector de aberraciones: ASCOR, con software de corrección automática JEOL Cosmo. Corrección de aberraciones hasta orden 5. Alineamiento del corrector para todos los voltajes de aceleración de trabajo.
Cámara pre-filtro de energía: Gatan Rio, CMOS, 4096 x 4096 pixeles, 20 fps a máxima calidad, 160 fps a 1k x 1k.
Filtro de energía: GIF Continuum K3 IS, con Dual EELS y Q-slit para medidas resueltas en momento.
Cámara del filtro: Gatan K3, detección directa, 4k x 4k.
Detectores:
- 2 detectores EDXS SDD, sin ventana, de 100 mm^2 de área de detección cada uno y ángulo sólido combinado de 1.8 sr.
- Detectores STEM BF, ABF, ADF, HAADF, de electrones secundarios y electrones retrodispersados.
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