JEM-3000F

Ubicación:Location: cnme-madrid

Sin técnico: 30€ /Hora<br> Con técnico: 45€ /Hora
Sin técnico: 60€ /Hora<br> Con técnico: 90€ /Hora
Sin técnico: 60€ /Hora<br> Con técnico: 90€ /Hora
Sin técnico: 120€ /Hora<br> Con técnico: 180€ /Hora
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El microscopio electrónico de transmisión  JEM 3000F ofrece excelentes características para trabajos de alta resolución. Su resolución entre puntos alcanzable (0.17 nm) combinado con un giro de la muestra de ± 25º confieren a este equipo un gran potencial para el análisis y caracterización estructural de materiales. Tiene instalada una unidad STEM y detectores de campo oscuro de ángulo alto e intermedio (HAADF y LAADF). Desde el punto de vista analítico tiene acoplados un detector de XEDS y un espectrómetro ENFINA. La utilización conjunta de estos espectrómetros junto con la unidad de STEM y los detectores de campo oscuro asociados, permiten llevar a cabo caracterización química a nivel atómico.
 

¿Qué usos tiene este equipo?

  • Caracterización estructural de materiales.
  • Obtención de imágenes de gran resolución.
  • Información morfológica y de tamaños (TEM).
  • Mapeo químico (STEM).
  • Análisis composicional semi-cuantitativo (XEDS).
  • Análisis composicional cuantitativo (EELS).

 

Especificaciones técnicas

  •  Voltaje de aceleración de 300 kV.
  • Cañón de electrones de emisión de campo tipo Schottky.
  • Resolución entre puntos de 0.17 nm en modo TEM y 0.14 nm en modo STEM. Cámara CCD multibarrido (1k x 1k) para la adquisición digital de las imágenes.
  • Sistema de microanálisis por XEDS (OXFORD INCA).
  • Espectrómetro ENFINA para EELS (resolución en energía de 1.3 eV).
  • En modo STEM cuenta con un detector ADF (GATAN) y un detector HAADF para la adquisición de imágenes de contraste Z.
  • El goniómetro permite ± 25o de inclinación de la muestra.
  • Portamuestras GATAN de doble inclinación y de bajo fondo (Be).