AFM multimode Nanoscope III A (Bruker)

Ubicación:Location: cnme - madrid

Sin técnico: 20€ /Sesión<br> Con técnico: 30€ /Sesión
Sin técnico: 40€ /Sesión<br> Con técnico: 60€ /Sesión
Sin técnico: 40€ /Sesión<br> Con técnico: 60€ /Sesión
Sin técnico: 80€ /Sesión<br> Con técnico: 120€ /Sesión
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El AFM es una técnica de medida superficial que se basa en la interacción de una punta con la superficie de la muestra. Esta técnica permite el análisis superficial de muestras con resolución nanométrica o incluso atómica. Como principal ventaja tiene la posibilidad de hacer medidas sin ningún tratamiento previo de la muestra a medir, y sin la necesidad de emplear vacío. 
 

Modos de trabajo:

  • Topografía en modo contacto, en aire y en líquido (medidas de rugosidad superficial, altura de capas, escalones, terrazas o la forma o distribución de objetos en la superficie).
  • Topografía en modo tapping, en aire y en líquido, con la correspondiente imagen de fase (medidas del contraste composicional de diferentes materiales).
  • Medidas mecánicas, tanto en contacto como en tapping, y en aire o en líquidos (obtención de curvas deflexión-desplazamiento).
  • Medidas de potencial de superficie que permite detectar la presencia de cargas en la superficie de la muestra.
  • Medidas de fuerzas magnéticas (MFM) que permiten observar dominios magnéticos que no son visibles en el modo topográfico.
  • Medidas de fuerzas eléctricas (EFM) sobre la superficie de la muestra.
  • Medidas de nanoindentación y nanoscratching para obtener información sobre la dureza de una muestra o la adhesión y durabilidad de una película.   

 

Especificaciones técnicas:

  • AFM multimode Nanoscope III A (Bruker) equipado con tres scanners de 1 µ, 15 µ y 150 µ.
  • Controlador de temperatura (medidas entre temperatura ambiente y 60ºC).