Ubicación:Location: cnme - madrid
Universidad Complutense de Madrid
Universidad de Zaragoza
Organismos públicos de investigación (OPIS)
Sector industrial y empresas
Sin técnico: 20€ /Hora<br> Con técnico: 30€ /Hora
Sin técnico: 40€ /Hora<br> Con técnico: 60€ /Hora
Sin técnico: 40€ /Hora<br> Con técnico: 60€ /Hora
Sin técnico: 80€ /Hora<br> Con técnico: 120€ /Hora
El microscopio electrónico de barrido JSM 6335F está especialmente indicado para la nano-caracterización superficial de muestras biológicas y de materiales, así como para la determinación semicuantitativa de la composición de materiales geológicos y de otras naturalezas. Mediante el empleo de electrones retrodispersados se puede obtener una primera impresión de la distribución de elementos y de fases en el estudio de materiales.
¿Qué usos tiene este equipo?
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Obtención de imágenes en alta resolución con electrones secundarios.
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Obtención de Imágenes con electrones retrodispersados y composición empleando un detector BSED (Back Scattering Electron Detectector).
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Análisis químico elemental por medio de espectroscopia EDS.
Especificaciones técnicas
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Cañón de electrones de cátodo frío de emisión de campo.
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Detector de electrones secundarios.
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Resolución de la imagen:
- A 15 kV: 1.5 nm (a 4 mm de distancia de trabajo).
- A 1 kV: 5.0 nm (a 4 mm de distancia de trabajo).
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Amplificación (MAG): de 10x hasta 500.000x.
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Detector de electrones retrodispersados:
- A 30 kV: 2 nm (a 8 mm de distancia de trabajo).
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Análisis EDS: análisis elemental cualitativo por dispersión de energía. Oxford Instruments, modelo: X-Max de 80 mm2 con una resolución de 127 eV a 5,9 KeV.
