SEM & DUAL BEAM

Ubicación:Location: cnme - madrid

Sin técnico: 20€ /Hora<br> Con técnico: 30€ /Hora
Sin técnico: 40€ /Hora<br> Con técnico: 60€ /Hora
Sin técnico: 40€ /Hora<br> Con técnico: 60€ /Hora
Sin técnico: 80€ /Hora<br> Con técnico: 120€ /Hora
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El microscopio electrónico de barrido JSM 6335F está especialmente indicado para la nano-caracterización superficial de muestras biológicas y de materiales, así como para la determinación semicuantitativa de la composición de materiales geológicos y de otras naturalezas. Mediante el empleo de electrones retrodispersados se puede obtener una primera impresión de la distribución de elementos y de fases en el estudio de materiales.

 

¿Qué usos tiene este equipo?

  • Obtención de imágenes en alta resolución con electrones secundarios.
  • Obtención de Imágenes con electrones retrodispersados y composición empleando un detector BSED (Back Scattering Electron Detectector).
  • Análisis químico elemental por medio de espectroscopia EDS.

  

Especificaciones técnicas

  • Cañón de electrones de cátodo frío de emisión de campo.
  • Detector de electrones secundarios.
  • Resolución de la imagen:
    • A 15 kV: 1.5 nm (a 4 mm de distancia de trabajo).
    • A 1 kV: 5.0 nm (a 4 mm de distancia de trabajo).
  •  Amplificación (MAG): de 10x hasta 500.000x.
  • Detector de electrones retrodispersados:
    • A 30 kV: 2 nm (a 8 mm de distancia de trabajo).
  • Análisis EDS: análisis elemental cualitativo por dispersión de energía. Oxford Instruments, modelo: X-Max de 80 mm2 con una resolución de 127 eV a 5,9 KeV.